全國(guó)統(tǒng)一銷售熱線：18925802250
全國(guó)統(tǒng)一銷售熱線：18925802250產(chǎn)品列表PRODUCTS LIST
QZ-80G恒溫恒濕試驗(yàn)箱，是一款勤卓環(huán)測(cè)科技生產(chǎn)的80L體積的環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備，在行業(yè)有著非常好的技術(shù)口碑，在LED，五金，數(shù)碼，電池，電子方面有著非常重多的成功客戶。QZ-80G恒溫恒濕試驗(yàn)箱LED
QZ-80G恒溫恒濕試驗(yàn)箱LED，是一款勤卓環(huán)測(cè)科技生產(chǎn)的80L體積的環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備，在行業(yè)有著非常好的技術(shù)口碑，在LED，五金，數(shù)碼，電池，電子方面有著非常重多的成功客戶。
一，介紹：恒溫恒濕試驗(yàn)箱，可程式恒溫恒濕試驗(yàn)機(jī)，恒溫恒濕箱中山珠海江門 超低濕試驗(yàn)箱，除了可仿真產(chǎn)品在一般氣候環(huán)境溫濕組合條件下（高低溫操作&儲(chǔ)存、溫度循環(huán)、高溫高濕、結(jié)露試驗(yàn)）..等，去檢測(cè)產(chǎn)品本身的適應(yīng)能力與特性是否改變，以及針對(duì)產(chǎn)品在（低溫低濕、高溫低濕、高溫高濕降到低溫低濕..等）環(huán)境下是否會(huì)發(fā)生龜裂、破損，另外在低濕環(huán)境中的空氣靜電量是一般環(huán)境的30倍以上，據(jù)統(tǒng)計(jì)，半導(dǎo)體破壞率：59%是由靜電所引起的。
※ 需符合性規(guī)范之要求（IEC、S、GB、MIL…）以達(dá)到間量測(cè)程序*性（含測(cè)試步驟、條件、方法）避免認(rèn)知不同，并縮小量測(cè)不確定的因素范圍發(fā)生。
二，工作室尺寸D×W×H 450×450×500 500×600×750 800×700×900 800×1000×1000 1000×1000×1000
溫度范圍:-20℃～150℃ （客戶可選溫度范圍）
濕度范圍:20～98％R.H
波動(dòng)/均勻度:≤&plsmn;0.5℃/≤&plsmn;2℃
濕度偏差:＋2、-3％R.H
升溫時(shí)間:0℃～100℃約35min
降溫時(shí)間:100℃～0℃約40min
控制器:進(jìn)口微電腦溫濕度集成控制器
精度范圍:設(shè)定精度：溫度&plsmn;0.1℃、濕度&plsmn;1％R.H，指示精度：溫度&plsmn;0.1℃、濕度&plsmn;1％R.H
QZ-80G恒溫恒濕試驗(yàn)箱LED
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| 執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn).中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分為強(qiáng)制性國(guó)標(biāo)（GB）和推薦性國(guó)標(biāo)（GB/T） 中國(guó)標(biāo)準(zhǔn),GB 10586-89濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件 中國(guó)標(biāo)準(zhǔn),GB 10592-89高、低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件 中國(guó)標(biāo)準(zhǔn),GB/T10589-1989低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件 滿足標(biāo)準(zhǔn) 電工委員會(huì)標(biāo)準(zhǔn),IEC68-2-03_試驗(yàn)方法Ca_穩(wěn)態(tài)濕熱 電工委員會(huì)標(biāo)準(zhǔn),IEC68-2-01_試驗(yàn)方法A_冷 電工委員會(huì)標(biāo)準(zhǔn),IEC68-2-02_試驗(yàn)方法B_干熱 美國(guó)標(biāo)準(zhǔn),MIL-STD-810F-507.4 濕度 美國(guó)標(biāo)準(zhǔn),MIL-STD-810F-501.4 高溫 美國(guó)標(biāo)準(zhǔn),MIL-STD-810F-502.4 低溫 美國(guó)標(biāo)準(zhǔn),MIL-STD883C方法1004.2溫濕度組合循環(huán)試驗(yàn) 美國(guó)標(biāo)準(zhǔn),MIL-STD810D方法502.2 美國(guó)標(biāo)準(zhǔn),MIL-STD810方法507.2程序3 日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn),S C60068-2-3-1987 試驗(yàn)Ca:濕熱、穩(wěn)態(tài) 日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn),S C60068-2-2-1995 試驗(yàn)B:干熱 日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn),S C60068-2-1-1995 試驗(yàn)A:低溫 美國(guó)半導(dǎo)體行業(yè)標(biāo)準(zhǔn),JESD22-A101-B-2004 恒定溫濕度試驗(yàn) 美國(guó)半導(dǎo)體行業(yè)標(biāo)準(zhǔn),JESD22-A103-C-2004 高溫儲(chǔ)存試驗(yàn) 美國(guó)半導(dǎo)體行業(yè)標(biāo)準(zhǔn),JESD22-A119-2004 低溫儲(chǔ)存試驗(yàn) 中國(guó)標(biāo)準(zhǔn),GB/T 2423.1-2001 低溫 中國(guó)標(biāo)準(zhǔn),GB/T 2423.2-2001 高溫 中國(guó)標(biāo)準(zhǔn),GB/T 2423.3-1993 恒定濕熱試驗(yàn)方法 中國(guó)標(biāo)準(zhǔn),GB2423.34-86 溫濕度組合循環(huán)試驗(yàn) 中國(guó)標(biāo)準(zhǔn),GB/T2423.4-93方法 中國(guó)環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備方法,GJB150.9-8 濕熱試驗(yàn)
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